GXT117E

1 基本性能

• 测温精度： < ±0.10℃（-20℃ ~ +50℃） < ±0.15℃（-40℃ ~ +70℃） < ±0.20℃（-40℃ ~ +100℃） < ±0.25℃（-55℃ ~ +125℃） < ±0.30℃（-55℃ ~ +150℃）
• 测温范围：-55℃ ~ +150℃
• 低测温功耗： 3.5μA（1Hz 连续转换模式 / 无平均输出） 18μA（1Hz 连续转换模式 / 8 次平均输出） 50nA（关断模式）
• 用户自定义 EEPROM：48bits
• 电源电压：2.5V ~ 5.5V
• 测温分辨率： 16bits / 0.0078125℃（1LSB）
• 可编程测温报警阈值、平均输出次数、数字温度失调校正
• NIST 可追溯 ID
• 兼容 SMBus、I²C 通信协议
• 封装信息：

2 应用场景

• 电子温度计
• 可穿戴测温设备
• 冷链温度监控
• 温度变送器
• 替代 RTD 器件：PT100、PT500、PT1000

3 芯片概述

GXT117E 是一款高精度、低功耗数字温度传感器，提供 16bits 测温结果（0.0078125℃/LSB），在 - 20℃至 + 50℃区间内测精度可达 ±0.1℃。GXT117E 兼容 SMBus、I²C 通信协议，在一条通信总线上最多可挂载 4 个不同从机地址的 GXT117E。GXT117E 内部集成了 EEPROM，其中 48bits 支持用户自定义编程。

GXT117E 的低功耗特性最大限度地减少了自发热效应对测温精度的影响。GXT117E 的工作电压范围为 2.5V 至 5.5V。GXT117E 在 1Hz 连续转换模式、无平均输出配置下的典型功耗仅为 3.5μA。

GXT117E 可作为单芯片数字方案替代铂电阻测温。GXT117E 测温精度可匹配 AA 级 RTD，同时所需功耗大幅降低。GXT117E 节省了 RTD 测温涉及的诸多复杂环节，如精密基准源、匹配走线、复杂算法以及后续校准，从而简化了设计工作。

GXT117E 均在生产环节经过 100% 测试，且每颗芯片均拥有唯一的 NIST 可追溯 ID。

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